仪器信息网讯 2016年10月25日-26日，第二届电镜网络会议即将举行。本届会议的报告内容我们依然围绕材料科学和生命科学两大应用领域展开。其中电子显微学技术在材料科学领域的应用将聚焦低电压扫描电镜技术、FIB-SEM、像差校正、透射电镜制样技术、原位电镜技术等方面。
在本次会议中，我们特别邀请了数位业内专家学者围绕以上主题展开精彩报告。随小编一起，先睹为快吧！
曾毅：低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用
低电压扫描电镜的特点是什么?为什么要采用低电压进行扫描电镜观察?为什么现有场发射扫描电镜都具有较好的低电压分辨率(通常优于1.5nm)，但是很多扫描电镜工作者却不愿意或者不敢使用低电压进行观察?如何在低电压下获得高清晰度图像?采用低加速电压进行扫描电镜观察时需要注意什么?影响低电压扫描电镜图像质量的主要因素有哪些?
中国科学院上海硅酸盐研究所研究员曾毅将基于长期的扫描电镜工作经验，从理论和实际操作两方面探讨低电压扫描电镜在材料领域的应用，对以上问题作出解答，并介绍如何利用低加速电压进行介孔材料观察和分析?如何利用低加速电压获得材料真实的显微结构信息?低电压STEM在材料分析中的应用等内容?
彭开武：聚焦离子束(FIB)技术在微纳米材料研究中的应用
聚焦离子束(FIB)技术是一种集形貌观测、定位制样、成份分析、薄膜淀积和无掩模刻蚀各过程于一身的新型微纳加工技术。它突破了只能对表层成像和分析的局限，可以对样品进行三维的、表面下的观察和分析，也可以对样品材料进行切割研磨和沉积特定材料，用它可以获得以前无法得到的样品信息。
国家纳米科学中心纳米检测技术室高级工程师彭开武在会议中将介绍聚焦离子束技术原理和功能，并围绕其在微纳米材料表征方面，介绍几个具体应用，包括：透射电镜样品制备、纳米材料的三维表征等，重点讨论用于微纳米材料电学性能测试的电极制作方法。
于荣：像差校正电镜原理与应用
作为文明的物质载体的材料都是由原子构成的。但原子到底是以怎样的方式构成材料?它们又是怎样影响材料的功能?对这些问题的探索就是材料的原子结构研究。在现代社会，这已不仅仅是纯科学的好奇。因为材料的原子结构从根本上决定了材料的功能，所以也是工程技术研究的重要内容。
像差校正电镜的出现使人们具有了亚埃尺度的分辨能力，而且对材料表面、界面、催化剂颗粒等局域结构的原子位置的测量达到了皮米精度，可以与X射线衍射对宏观单晶的原子位置的测量精度相媲美。这从根本上改变了高分辨电子显微学长期以来以定性分析为主的局面，给材料研究带来了重大机遇。在本次报告当中，清华大学教授、北京电子显微镜中心主任于荣将简要介绍像差校正电镜的基本原理及典型应用。
鞠晶：透射电镜制样技术
要想得到完美的电镜照片，必须要有过硬的电镜样品制备技术，否则哪怕是采用最高精尖的电镜也得不到理想的结果。近年来，大家愈来愈认识到电镜制样技术的重要性。同时，电镜制样技术是一项极其精细和繁复的应用技术，如何更好的掌握这些技术，获得满意的样品，是许多电镜工作者所关心的。
本次会议中，北京大学分析测试中心高级工程师鞠晶将为大家详细介绍透射电镜中常用的几种制样技术，如超薄切片技术，离子减薄技术等等。结合电镜拍摄的具体要求介绍各种制样技术的注意事项和操作细节。
解德刚：环境透射电镜中的纳米实验室
近年来，随着实验技术的发展，透射电镜正快速从一种静态表征技术拓展为动态表征技术，即原位技术。原位透射电镜技术在保持电镜固有的高分辨的同时，再将各种力、热、光、电、磁等物理场中的一个或多个施加给电镜样品，并利用相机记录材料在该刺激下的响应过程，相当于在电镜内部搭建了一个纳米实验室。
另外，新的环境透射电镜以及新的样品杆设计能够为样品提供一定的气体或液体环境。如此一来，环境透射电镜中的纳米实验室也可以用来表征材料科学的最后的两大块：材料处理与服役性能。西安交通大学微纳尺度材料行为研究中心解德刚博士将介绍原位透射电镜技术在近年来的新发展，以及西安交大金属强度国家重点实验室微纳中心利用该技术在材料科学研究中所进行的一些应用和探索。
另外，本次电镜网络会议中sem扫描电子显微镜实验报告，关于电子显微学技术在材料科学领域的应用，还有徕卡仪器有限公司、复纳科学仪器(上海)有限公司、日立高新技术公司、北京中科科仪股份有限公司、Gatan中国等仪器厂商带来关于电镜仪器及制样设备的最新技术进展的报告。
程路：制备SEM/AFM样品平整断面的实验方案介绍
徕卡纳米技术部资深应用工程师程路将介绍制备SEM/AFM样品平整断面的实验方案。程路，毕业于北京科技大学。从事电子显微镜领域10年，前往日本，德国及奥地利接受电子显微镜及电镜样品制备技术培训及交流共计5次sem扫描电子显微镜实验报告，作为徕卡纳米技术部全球应用技术人才库成员，不仅支持中国，也多次支持新加坡，韩国等国家。
吴长江：超薄切片技术在材料科学领域的应用
徕卡资深培训讲师吴长江将介绍超薄切片技术在材料科学领域的应用，徕卡在相关技术领域有着丰富的技术积累。吴长江，毕业于北京航空航天大学。从事显微成像领域8年，在徕卡显微系统中国工作7年，前往徕卡欧洲总部参加技术培训并作为培训讲师培训欧洲技术工程师共计10次。获得徕卡纳米技术部总部培训师认证资格证书。
金相会：日立全新球差电镜 HF5000
日立电子显微镜主管工程师金相会将介绍日立全新推出的200kV场发射透射电子显微镜HF5000，HF5000达到了亚埃级的空间分辨率(0.1 nm或更低)，球差校正器为其标准配置。金相会，毕业于吉林大学，加入日立10年一直从事日立电子显微镜技术工作。多年来在日立电子显微镜日本原厂设计部门工作，回国后多次前往日本参加培训，并获得日立总部工程师认证。
孙占峰：场发射扫描电镜的技术和应用
北京中科科仪股份有限公司电镜事业部副经理孙占峰将介绍场发射扫描电镜的技术和应用。孙占峰，国家重大科学仪器设备开发专项-场发射枪扫描电镜开发和应用项目实施负责人，国家重大科学仪器设备开发专项-新型深紫外全固态激光源及前沿装备开发(1)项目的技术骨干，“十一五”国家科技支撑重大计划-场发射枪透射电子显微镜研制的子课题负责人。
曹潇潇：原位电镜技术的进展与应用
Gatan中国曹潇潇将介绍原位电镜技术的进展与应用。曹潇潇毕业于上海大学材料研究所，师从著名核材料专家周邦新院士。曾就职于德国蔡司公司，作为主要负责人参与了中国国内第一台能量过滤透射电镜、氦离子显微镜、X射线显微镜等设备的安装调试和应用开发工作。2014年7月加入Gatan中国，从事电子能量损失谱，原位电子显微学的应用支持和技术推广工作。
大会日程
报名参会
参会指南
一、如何报名 1、为使更多电子显微学工作者能通过网络平台得到更好的学习和交流，“第二届电镜网络会议（iCEM2016）”不收取注册费及参会费用。
2、登录仪器信息网，点击“第二届电镜网络会议（iCEM 2016）”官网进行报名（用户可挑选自己感兴趣的1个或多个主题报名，所报名的主题专场数目无限制）。
3、报名开放时间为即日起至2016年10月24日。
二、如何参会
1、用户报名并通过审核后，会在会前收到一封由仪器信息网发送的会议邀请邮件。邮件内容包括会议名称、时间、进入会场的链接地址及相关注意事项。
2、会场会在会议开始前30分钟向参会用户开放，收到会议邀请的用户可使用仪器信息网注册账号登录，点击邀请邮件中的会议地址，选择“进入会场”，按提示操作即可进入会场。（注：未使用过会议平台的用户进入会场时会自动安装会议插件，请允许安装即可，完成后自动跳转到会议平台上。）
3、会议中报告人的PPT和讲解，将通过网络会议平台，实时传送给所有与会者。与会者可通过文字向报告人提问，报告人会在报告结束后统一解答与会者的问题。
三、参会条件
1、参会用户需准备电脑，及带宽超过128K的网络。
2、电脑系统需为Win7及以上系统，本会议平台不支持XP系统。
3、参会浏览器请选择IE或火狐浏览器，其他浏览器可能会出现不兼容会议平台的问题。
4、用户也可通过手机或移动电脑参会，先下载安装Webex App，然后将相应的会议链接地址复制粘贴到浏览器中打开。注：不能下载安装后，直接打开Webex App参会。
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